-
¹Ú¸· ¹Ì¼¼±¸Á¶ Çü¼º¿¡ ´ëÇÑ »óÀå ¸ðµ¨ °³¹ß ÇöȲ
*±Ç¿ë¿ì1, ÀÌȯ¿í1, ¹ÚÁ¤ÀÎ1, ALI Muhammad Hassaan1
1È«ÀÍ´ëÇб³
-
»óÀå¸ðµ¨À» È°¿ëÇÑ UO2 ÀÔ¼ºÀå Àü»ê¸ð»ç ¿¬±¸
À±º¸Çö1, *Àå±Ù¿Á1
1°æÈñ´ëÇб³
-
3D Logic Device °øÁ¤¿ë Àåºñ Àü»ê¸ð»ç ¹× °ËÁõ
*±Çµæö1, Á¤»ó¿µ1, Àå¿ø¼®1, ÀÓ¿¬È£2
1Çѱ¹ÇÙÀ¶ÇÕ¿¡³ÊÁö¿¬±¸¿ø, 2ÀüºÏ´ëÇб³
-
»ïÂ÷¿ø ¸Þ¸ð¸® ÇÙ½É °øÁ¤¿¡ ´ëÇÑ ÇöóÁ ½Ä°¢ °øÁ¤ÀÇ Àü»ê¸ð»ç
*ÀÓ¿¬È£1
1ÀüºÏ´ëÇб³
-
SS4-5 [Invited]
14:15-14:30
¿øÀÚÃþÁõÂø °øÁ¤ÀÇ Çؼ®À» À§ÇÑ Á¦ÀÏ¿ø¸® Àü»ê¸ð»ç ¿¬±¸
*¼ÛºÀ±Ù1
1È«ÀÍ´ëÇб³
-
ºÐÀÚ µ¿·ÂÇÐ À¥ Ç÷§Æû ±â¹Ý ¹ÝµµÃ¼ °øÁ¤¿¡ ÇÊ¿äÇÑ ¿øÀÚ ½ºÄÉÀÏ Àç·á Ư¼º ºÐ¼®
*À̹ÎÈ£1, *¹Ú¹Î±Ô1, *±è¿µ±¤1br
1(ÁÖ)¹öÃß¾ó·¦
-
´Ù°áÁ¤ ¹Ú¸·ÀÇ ½Ç½Ã°£ ¹Ì¼¼±¸Á¶ ºÐ¼®
*¼Û°æ1
1Çѱ¹Àç·á¿¬±¸¿ø
-
³ª³ë±¸Á¶ ½Ç¸®ÄÜ¿¡ ÁõÂøµÈ Ãʹڸ· HfO2 Ư¼º ºÐ¼®
*À̼º¹Î1
1ÇѾç´ëÇб³
-
Wafer-scale uniformities and conformalities of HfO2 thin films deposited on trench structures via plasma-enhanced atomic layer deposition
*JEON Nari1
1Chungnam National University
-
½Ç¸®ÄÜ »êȸ· ³ª³ëȦ ³»º®¿¡ ÁõÂøµÈ Æú¸®½Ç¸®ÄÜ ¹Ú¸·ÀÇ °øÁ¤ Á¶°Ç¿¡ µû¸¥ ¹Ì¼¼ ±¸Á¶ º¯È ºÐ¼®
±è¼ö¹Î1, ±¸È£Á¤1, *Á¶¼ºÀç1
1ÀÌÈ¿©ÀÚ´ëÇб³
-
½Ã¹Ä·¹À̼ÇÀ» È°¿ëÇÑ ¿øÀÚÃþÁõÂø°øÁ¤ ±â¹Ý »êȹ° ¹ÝµµÃ¼ ¹Ì¼¼±¸Á¶ Á¦¾î ¹× ¼ÒÀÚ Æ¯¼º È®º¸ ¿¬±¸
ÇãÀç¼®1, *Á¤Àç°æ1
1ÇѾç´ëÇб³
-
SS4-12 [Invited]
16:15-16:30
°øÁ¤Á¶ÇÕ¼³°è¿¡ ±â¹ÝÇÑ °íÇ°À§ ´Ù°áÁ¤ Ge È°¼ºÃþ ½ÇÁõ ¼ÒÀç °øÁ¤ ±â¼ú °³¹ß ¿¬±¸
*¾Èµ¿È¯1
1±¹¹Î´ëÇб³
-
°øÁ¤Á¶ÇÕ¼³°è ±â¼úÀ» ÀÌ¿ëÇÑ ±Ý¼ÓÃ˸Å/2Â÷¿ø ³ª³ë¼ÒÀç/»êȹ° ¹ÝµµÃ¼ ³ª³ë±¸Á¶Ã¼ ±â¹Ý °í°¨µµ, °í¼±Åüº, ÀúÀü·Â¼Òºñ °¡½º °¨Áö ¼ÒÀç °³¹ß
*±Ç±ââ1, È«±¸ÅÃ2, ½É¿µ¼®3
1Çѱ¹Ç¥ÁØ°úÇבּ¸¿ø, 2Àü³²´ëÇб³, 3Çѱ¹±â¼ú±³À°´ëÇб³
-
Study on Deposition of High Quality Ultrathin Multicomponent Film Using Atomic Layer Modulation
*ÀÌÇѺ¸¶÷1, ¿ÀÀϱÇ2, ±è½½±â3
1ÀÎõ´ëÇб³, 2¾ÆÁÖ´ëÇб³, 3Çѱ¹ÀüÀÚºÎÇ°¿¬±¸¿ø